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Accueil du site > Plates-formes scientifiques > Plate-forme Spectroscopies et Microscopies des Interfaces > Tools and techniques > SPECTROSCOPIE DES INTERFACES :

SPECTROSCOPIE DES INTERFACES :

Spectroscopies vibrationnelles

Contact local  : Cédric Carteret, Professeur - Manuel Dossot, Maître de Conférences - Jérôme Grausem, Ingénieur d’Etudes

Equipements :

  • Microsonde Raman confocale Jobin Yvon T64000 (488 nm, 457 nm, 514 nm, 632 nm, 532 nm, 561 nm, 672 nm)
  • Infrarouge Thermo Nicolet 8700 FTIR du proche IR au lointain IR
  • Infrarouge Brucker Vertex 70V FTIR du moyen IR au lointain IR
  • Infrarouge Bruker Tensor 27 FTIR moyen IR
  • Microscope MIR Hypérion : imagerie infrarouge en réflexion / transmission ou par objectif ATR
  • Accessoires FTIR : Transmission, ATR diamant / germanium / ZnSe, DRIFT, IRRAS
  • Accessoires FTIR et Raman pour effectuer des analyses en enceinte avec régulation de température (de 93 à 1 073 K) et sous atmosphères contrôlées (vide, N2 - humidité relative...)

Spectroscopie électronique de surface

Contact local : Martine Mallet, Maître de Conférences - Romain Coustel, Maître de Conférences - Aurélien Renard, Ingénieur d’Etudes

Equipement :

 
KRATOS : AXIS Ultra DLD (Delay Line Detector)
Analyseur hémisphérique à 180 degrés, 165 mm de rayon moyen
- XPS : source monochromatisée de rayons X : Al-Kalpha, 1486.6 eV - Résolution FWHM 0,45 eV
- Neutraliseur de charges - Bombardement ionique - Basses et hautes températures - Imagerie - Analyse angulaire
- UPS : source lampe He :  HeI : 21,2 eV et HeII : 40,8 eV eV - Résolution niveau de Fermi Ag : 0,12 eV
- Neutraliseur de charges - Bombardement ionique - Basses et hautes températures - Imagerie
XPS Kratos

Spectrométrie nucléaire : Mössbauer 57Fe

Contact local : Mustapha Abdelmoula, Ingénieur de Recherche

Equipement :

 
Réflexion : CEMS, XMS, Gamma MS (MIMOS ambiante et in situ)
2 bancs transmission à basse température
Cryostat à bain hélium - Cryo Industries of America - (2 à 300 K)
Tête Froide - Cryo Industries of America - (6 à 300 K, cycle Gifford Mac-Mahon)
Tête Froide - Janis - (2 à 300 K, cycle Gifford Mac-Mahon)
3 Sources radioactives 50 mCi de 57 Co
MIMOS
  Mossbauer

 

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INTERFACES SPECTROSCOPY

Vibrational Spectroscopies

Local contact : Cédric Carteret, Professor - Manuel Dossot, Lecturer - Jérôme Grausem, Engineer
Equipments :

  • Jobin Yvon T64000 high resolution confocal Raman microscope (488 nm, 457 nm, 514 nm, 632 nm, 532 nm, 561nm, 672 nm)
  • Thermo Nicolet 8700 FTIR - near/middle/far infrared 
  • Brucker Vertex 70V - middle and far infrared
  • Brucker Tensor 27 - middle infrared
  • Brucker Hyperion infrared microscope for middle infrared chemical mapping in reflection / transmission or with ATR objective
  • Infrared accessories for transmission, diamond / germanium / ZnSe ATR, DRIFT, IRRAS
  • Various accessories for Raman and FTIR analysis for temperature controlled (from 93 to 1073K) and/or atmosphere controlled (vacuum, N2 , relative humidity . . .) experiments

X-Ray Photoelectron Spectroscopy - XPS
Local Contact : Martine Mallet, Lecturer & Aurélien Renard, Engineer
Equipments :
 
KRATOS : AXIS Ultra DLD (Delay Line Detector)
Hemispherical analyser 180 degree, 165 mm mean radius
- UPS : radiation source by He UV lamp  : HeI : (21.2 eV) & HeII: (40.8 eV) Resolution at the Fermi level (Ag) : 0,12 eV - Charge neutralizer - Ionic sputtering - Low and high temperature control 
- XPS : Monochromatic Al-Kalpha source : 1486.6 eV Spectral resolution FWHM 0,45 eV - Charge neutralizer - Ionic sputtering - Low and High temperatures control - Parallel Imaging - Angle resolved XPS
XPS Kratos

Nuclear Spectrometry (57Fe Mössbauer spectroscopy)
Local Contact : Mustapha Abdelmoula, Research Engineer
Equipments :
 
Backscattering : CEMS, XMS, Gamma MS (MIMOS at room temperature and in situ)
2 Transmission Mössbauer Spectrometers at low temperature
Cryostat Cryo Industries of America (2 to 300 K)
Cold head - Janis - (2 to 300 K, Gifford Mac-Mahon cycle)
3 radioactives sources 50 mCi of 57Co
MIMOS
  Mossbauer

 

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